AFM-120型變溫原子力顯微鏡冷熱臺是一款高性能、高性價比的科學研究級設備,專為原子力顯微鏡設計,支持多種工作模式和功能模塊擴展,滿足基礎科研需求。其開放式結構設計支持定制化功能選擇,配備XYZ三軸獨立閉環壓電陶瓷掃描器,實現高精度定位和高分辨掃描測量,納米表征和測量精度優于99.5%。該冷熱臺采用熱電制冷,溫度范圍為-10℃至120℃,顯示精度為0.1℃,控溫精度為±0.1℃,樣品區域為34×34mm,最大加熱和冷卻速率均為20℃/min。設備尺寸為130×80×8mm,凈重0.2kg,無觀察窗口,無真空度要求,需配備水冷組件。
CMCG-400型超低溫光學冷熱臺平臺(GM制冷機) 產品簡介CMCG-400型超低溫光學冷熱臺平臺此型號冷臺采用縣空隔振設計,樣品臺震動小于100nm。冷臺體積小巧,方便與顯微鏡、拉曼光譜儀等設備集成。附件豐富,包括低溫壓電位移臺、光前組件、電學接頭、不同材質窗片等可供搭配??梢詮V泛用于半導體工業、MEMS、超導、電子學、貼電子學、物理學和材料學等領域。
JKZC-ZKRY100型高溫復合材料真空熱壓機是一款標配2T精密程控壓力機??梢栽谡婵蘸透邏合轮苽渲旅軓秃喜牧?,在2T壓力下可鍵合多層基片。爐子可以加熱到1000 ℃并且24段程序控溫。采用水冷法蘭,標配4英寸石英管真空密封,真空度達到10-5Torr(用分子泵)。是目前研究超高溫復合材料的重要制樣設備,目前在高校研究單位廣泛使用.
JKZC-RY500型溫度500℃科研級高溫熱壓機是一款CE認證的500℃溫度可控型液壓平板熱壓機,由5T的精密復合熱壓和兩塊熱壓板組成。熱壓平板由兩個數顯溫度控制器來進行控溫,最高溫度可達500℃,熱壓平板尺寸:135mm×135mm×40mm,材質為硬質的Cr12MoV合金。通過信號線將壓機與控制系統連接即可在觸摸屏上設置設備的升溫程序、壓力大小和保壓時間。觸摸屏顯示的數據更為直觀,方便快捷。熱壓平板內部設計有水冷夾層,可以保證平板的快速冷卻;同時設置有壓力表用于測量熱壓平板的壓力。
BLRT-600型背面探針型冷熱臺是一款適用于背面電極樣品的高精度溫控設備,具備耐高低溫的重復使用探針。其設計特點包括遠距離上部觀察窗口,無需氣體吹掃防結露,以及外部接線盒用于信號切換,可結合濕度控制模塊進行鈣鈦礦、太陽能電池、OLED等的變溫測試。采用液氮制冷,溫度范圍從-190°C至600°C,溫度分辨率和控溫精度均為0.1°C,最大加熱速率為50°C/min,冷卻速率為-30°C/min。樣品臺尺寸為30×35mm,觀察窗直徑為41mm,設備尺寸為100×140×54mm,凈重0.9kg。
GWJDN-0.1HZ型四通道超低頻高溫介電測量系統應用于高溫環境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析,通過配置不同的測試設備,完成不同參數的測試。是一款超低頻高低溫四通道介電測試系統,性能優越,完全科研級別是國家科研院所和高等學府的首選設備。
JSRT-1000型金屬線材電阻率測試儀是一款針高分辨率、高精度的臺式機型,可用于金屬線材、棒材等材料電阻率、電導率測量及絞合電線電纜電阻、米電阻的高精度測量。
JSDT-300A型智能金屬導線、棒材電阻率儀能便攜全自動測量導線、棒材電阻率、電導率等參數高性能檢測儀器。
HTIM-300高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試,該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發,可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率,可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試,可以廣泛用于半導體材料硅(si)、鍺(ge),化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦(InSb),三元化合物半導體GaAsAl、GaAsP,固溶體半導體,如Ge-Si、GaAs-GaP等的塊體材料的電阻率測量等材料的電阻率測量。
HW-ISD2200nm紅外半導體激光器是一款高功率穩定性的先進材料測試儀器,輸出功率在0到最大值之間連續可調,具備線偏振和TE00模特性。它采用原裝進口激光二極管,確保工作性能可靠和激光器壽命長,適合長時間連續工作。該激光器配備過熱和限流保護電路,以及TEC和激光頭風扇制冷系統,支持外接信號發生器進行高速調制(TTL和模擬調制)。廣泛應用于熒光激發、光譜分析、細胞腫瘤照射、醫療分析和光電檢測等實驗領域。
JKZC-STC600高真空雙靶磁控濺射儀是我公司自主新研制開發的一款高真空鍍膜設備,可用于制備單層或多層鐵電薄膜、導電薄膜、合金薄膜、半導體薄膜、陶瓷薄膜、介質薄膜、光學薄膜、氧化物薄膜、硬質薄膜、聚四氟乙烯薄膜等。
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