權利要求書： 1.一種電子元件平移式測試分選機，具有電子元件低溫測試功能，所述分選機包括料管、上料運料區、測試區和下料運料區，所述料管包括用于上料的上料料管和用于下料的下料料管，其特征在于，所述分選機還包括一級密封腔和二級密封腔，且所述一級密封腔中充有干燥氣，所述測試區位于所述一級密封腔內，所述上料運料區和所述下料運料區位于所述二級密封腔內，所述一級密封腔與所述二級密封腔之間、所述料管與所述二級密封腔之間能夠連通，以承接所述電子元件。2.根據權利要求1所述的電子元件平移式測試分選機，其特征在于，所述一級密封腔與所述二級密封腔之間開設取料口，并通過所述取料口實現所述電子元件在所述一級密封腔與所述二級密封腔之間的流轉。3.根據權利要求2所述的電子元件平移式測試分選機，其特征在于，所述取料口上設有自動門和動力機構，所述動力機構控制所述自動門開合以實現所述取料口的打開和封閉。4.根據權利要求3所述的電子元件平移式測試分選機，其特征在于，所述動力機構選自氣缸，所述氣缸的前端還設有限制所述氣缸伸出行程的限位塊。5.根據權利要求2所述的電子元件平移式測試分選機，其特征在于，所述二級密封腔包括上料密封腔，所述取料口包括開設在所述上料密封腔與所述一級密封腔之間的第一取料口，所述上料運料區位于所述上料密封腔內，所述上料運料區設置有上料直振軌道、放料軌道和放料梭，所述上料直振軌道與所述上料料管連通并承接所述上料料管中的電子元件，所述放料軌道設在所述上料直振軌道遠離所述上料料管的一端，所述放料梭在所述放料軌道上往復運動，以將所述上料直振軌道上的電子元件運送至所述第一取料口，且所述放料梭中的電子元件通過所述第一取料口被搬運至所述測試區。6.根據權利要求5所述的電子元件平移式測試分選機，其特征在于，所述上料密封腔包括連通的第一上料密封腔和第二上料密封腔，所述放料軌道遠離所述上料直振軌道的一端置于所述第二上料密封腔內，所述第二上料密封腔的側壁和/或頂壁上開設所述第一取料口。7.根據權利要求1～6任一項所述的電子元件平移式測試分選機，其特征在于，所述測試區設置有預溫盤和測試機構，所述預溫盤對所承接的入料區的電子元件預溫，預溫后的電子元件運送至所述測試機構內測試。8.根據權利要求2～6任一項所述的電子元件平移式測試分選機，其特征在于，所述二級密封
聲明：
“電子元件平移式測試分選機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：管理員
來源：杭州長川科技股份有限公司
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2025年07月23日 ~ 26日 
