本發明涉及用于分析目標物的化學成分的方法和系統。根據本發明的示例性方面,提供了一種用于分析目標物(5)的化學成分的方法,該方法包括將電可調法布里?珀羅干涉儀(4)放置在由輻射源(2)發射的輻射路徑中,并且利用檢測器(6)來檢測通過法布里?珀羅干涉儀(4)并且通過目標物(5)或被目標物(5)反射的輻射(3),并且其中進行檢測使得允許同時檢測多個通帶。
聲明:
“用于分析目標物的化學成分的方法和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)