本發明公開了一種試劑倉、全自動化學發光分析儀及混勻方法,所述試劑倉,包括:試劑盤,所述試劑盤內設置有用于放置試劑瓶的試劑托架,所述試劑瓶設置有傳動部;驅動裝置以及混勻機構;所述混勻機構包括有混勻架、混勻盤、碼盤、光耦以及電機;所述混勻盤包括驅動部以及第一缺口;所述光耦安裝于碼盤外緣,用于檢測碼盤的轉動角度,所述碼盤包括遮擋部以及第二缺口。采用本發明可有效提高了混勻的效率,且混勻效果好,結構簡單,控制十分簡單方便。
聲明:
“試劑倉、全自動化學發光分析儀及混勻方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)