本發明公開了一種全二維色譜分離的峰檢測方法,屬于分析化學領域。該方法基于對原始一維分離色譜峰的峰檢測與二維分離平面上的峰重構,完成全二維分離的色譜峰檢測。一維色譜峰的檢測,首先通過平滑和背景扣除等提高數據質量,預先定義色譜峰響應區間的劃分數目,將原始色譜圖進行完整切割,基于響應線與各色譜峰的交匯點,以及用戶定義的峰點數閾值和色譜的單峰特性,尋找色譜峰頂點與保留時間位置,并通過改變響應劃分數目及其對峰檢測結果的影響,獲得最終一維峰檢測結果;二維分離面的峰重構,則基于一維分離的峰檢測結果與實驗條件,包括調諧時間與采樣頻率,以及色譜峰在二維分離上的保留時間漂移量,融合符合預設條件的相鄰一維色譜峰,計算平均保留時間,記錄并輸出全二維分離的色譜峰檢測結果。
聲明:
“全二維色譜分離的峰檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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