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    線粒體定位的碳點、制備方法及其在銀離子檢測中的應用

    894   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 07:06:48
    本發明屬于分析化學技術領域,尤其涉及一種線粒體定位的碳點、制備方法及其在銀離子檢測中的應用,所制備的碳點在銀離子的濃度為0至1毫摩爾每升發光強度呈現線性降低,具有比較寬的pH應用范圍、很好的光和熱穩定性、選擇性、抗干擾性,并且能夠定位線粒體,適用于細胞內銀離子的雙通道熒光檢測。
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    “線粒體定位的碳點、制備方法及其在銀離子檢測中的應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
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