本發明公開了一種基于高光譜成像技術的蘋果表面缺陷快速無損識別方法,該方法包括以下步驟:收集完好無損和表面有缺陷蘋果樣本隨機分配,建立校正樣本集和檢驗樣本集;利用高光譜圖像采集系統采集校正和檢驗樣本集蘋果樣本的高光譜圖像;對高光譜圖像進行黑白校正,并通過掩膜處理以消除背景,使圖像中僅含蘋果。然后,分別提取蘋果正常區域以及表面有缺陷區域的平均光譜,并采用多元散射校正(MSC)對原始光譜進行預處理,得到校正和檢驗樣本集光譜數據。最后,利用偏最小二乘判別分析方法結合化學計量學,建立蘋果表面缺陷的識別模型。本發明通過高光譜成像技術可快速、無損地識別出表面有缺陷的蘋果。
聲明:
“基于高光譜成像技術的蘋果表面缺陷快速無損識別方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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