本發明提供了一種多孔氧化鋁薄膜的阻擋層厚度的檢測方法,其特征在于,該方法包括根據多孔氧化鋁薄膜在200nm~2500nm范圍內的透射光譜米判斷多孔氧化鋁薄膜是否含有阻擋層,其中,如果透射光譜在200nm~2500nm范圍內出現振蕩,則判斷該多孔氧化鋁薄膜的阻擋層的厚度大于0;如果透射光譜在200nm~2500nm范圍內不出現振蕩,則判斷該多孔氧化鋁薄膜的阻擋層的厚度為0。本發明的方法是一種無損檢測方法,該方法能夠簡便、快速、高效、對樣品無損害地監控以及檢測多孔氧化鋁薄膜的阻擋層的去除程度,在大規模生產中可以作為產品控制以及質量檢測的重要手段。
聲明:
“多孔氧化鋁薄膜的阻擋層厚度的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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