本發明公開了一種基于機器視覺的電子元件檢查方法,包括如下步驟:步驟一、收集電子元件表面的損害圖像樣本和電子元件無損害的圖像樣本,同時收集電子元件表面的損害圖像樣本對應的超聲波探傷信號以及電子元件無損害的圖像樣本對應的超聲波探傷信號;步驟二、對電子元件表面的損害圖像的損壞種類進行人工標注,得到標注后的電子元件表面的損害圖像樣本。本發明實現了對電子元件的視覺檢測與超聲檢測相結合的自動檢測方法,通過兩種檢測方法結合,大大提高了檢測的準確性,此外實現了電子元件的自動檢測,節省了人工,有效降低了漏檢率。
聲明:
“基于機器視覺的電子元件檢查方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)