本發明公開了一種基于紅外差譜技術的納米纖維素薄膜含水率測量方法,選取待測納米纖維素薄膜制得基樣和不同濕度下的試樣;利用紅外光譜儀分別測得基樣的紅外光譜圖H0和不同濕度下納米纖維素薄膜試樣的紅外光譜圖HS;用不同濕度下納米纖維素薄膜試樣的紅外光譜圖HS減去基樣的紅外光譜圖H0,得到紅外差譜圖HS?0;求得紅外差譜圖中1600?1800cm?1范圍內的面積AS?0;利用干燥法測量不同濕度下納米纖維素薄膜試樣的含水率MCS;將含水率MCS和面積AS?0利用最小二乘法線性回歸構建基于紅外差譜技術的納米纖維素薄膜含水率測量模型。該模型可用于待測納米纖維素薄膜含水率的批量測定,每個試樣耗時1s,大大縮短了納米纖維素薄膜含水率的檢測時間。本發明具有檢測快速、試樣需求量少的優點,是一種無損檢測技術,可以應用于納米纖維素薄膜檢測領域。
聲明:
“基于紅外差譜技術的納米纖維素薄膜含水率測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)