一種測量單分子DNA電導率的實驗技術方法,其特征是:用改進的動力分子梳將DNA單分子拉直在經APS修飾的云母上,用擋板緊貼住云母的一邊,在另一邊鍍上銀膜。把銀膜和原子力顯微鏡的導電針尖分別充當連接DNA單分子兩端的兩個電極,外接一由可變壓電源、滑動變阻器、靈敏電壓表和微電流測試儀組成的附加檢測器件,由此構成一檢測回路系統。本實驗技術改進后可以借助原子力顯微鏡(AFM)測定單分子DNA的電導率,尤其是在實現了DNA分子與金屬電極間的歐姆接觸的同時,對DNA分子無損傷,與現有的測量方法比較具有操作簡單,誤差小等優點。
聲明:
“測量單分子DNA電導率的實驗技術方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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