• <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>
  • 合肥金星智控科技股份有限公司
    宣傳

    位置:中冶有色 >

    有色技術頻道 >

    > 無損檢測技術

    > 基于SiPLS的近紅外光譜法測定大米中水分含量的方法

    基于SiPLS的近紅外光譜法測定大米中水分含量的方法

    1222   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 08:58:31
    本發明公開了一種基于SiPLS的近紅外光譜法測定大米中水分含量的方法,包括:采用X?Y殘差分析法對異常樣本進行了剔除,運用經典Kennard?Stone法對校正集及預測集樣本進行了選取,利用二階導數對近紅外光譜進行了預處理優化,采用SiPLS法將光譜劃分為25個子區間,利用其中的第3、9、18、20號4個子區間聯合建立了大米中水分模型,校正集決定系數為0.9573,校正集均方根誤差為0.3886。利用40個驗證集樣品對定標模型進行了驗證,預測相關系數達0.9625,平均預測回收率為100.27%,說明模型具有良好的預測能力。相較于全譜建模,采用SiPLS法建立的模型不僅精簡,還提高了模型的預測精度。本發明的方法作為一種準確、無損、環保的檢測手段,能夠用于大米中水分含量的快速測定。
    登錄解鎖全文
    聲明:
    “基于SiPLS的近紅外光譜法測定大米中水分含量的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
    分享 0
             
    舉報 0
    收藏 0
    反對 0
    點贊 0
    標簽:
    無損檢測
    全國熱門有色金屬技術推薦
    展開更多 +

     

    中冶有色技術平臺

    最新更新技術

    報名參會
    更多+

    報告下載

    赤泥綜合利用研究報告2025
    推廣

    熱門技術
    更多+

    衡水宏運壓濾機有限公司
    宣傳
    環磨科技控股(集團)有限公司
    宣傳

    發布

    在線客服

    公眾號

    電話

    頂部
    咨詢電話:
    010-88793500-807
    專利人/作者信息登記
    久爱国产精品一区免费视频_无码国模国产在线观看_久久久久精品国产亚洲A_国产综合精品无码
  • <tr id="qwu6y"></tr>
  • <menu id="qwu6y"><wbr id="qwu6y"></wbr></menu>