本發明涉及一種聚酰亞胺薄膜表面電荷特性分析方法,包括下列步驟:對聚酰亞胺薄膜樣品進行電暈充電;迅速檢測電暈充電后所述聚酰亞胺薄膜樣品,檢測所述聚酰亞胺薄膜樣品的表面電位隨時間的變化值并記錄數據V(t),其中V表示表面電位,t表示時間;獲取時間與V(t)對時間的導數的乘積與時間的關系,即tdV(t)/dt~logt;作出tdV(t)/dt~log對應的曲線,根據曲線狀態評估聚酰亞胺薄膜表面電荷積累及消散能力的特性。本方法和裝置不需要對聚酰亞胺薄膜進行任何破壞,能夠實現無損檢測,操作過程簡單方便,能夠直觀、準確而有效地評估樣品表面電荷積累及消散能力的情況。
聲明:
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