本發明公開了一種可靠性同測裝置及其控制方法,用于微控制器芯片內置大容量存儲器可靠性測試,可實現多芯片并行測試。同時以測試區間可配置的形式,可選擇全部覆蓋存儲空間,也可以選擇以不同芯片不同區間的等效方式以覆蓋全面,從同測數與測試空間配置兩方面兼顧測試效率、優化測試時間。記錄測試結果的同時,保存所有在測芯片的失效現場信息,便于對任何一個失效芯片進行分析。該方法基于測試硬件主控制板、上位機控制,還包括被測微控制器存儲器測試程序。以較小的成本實現批量微控制器的存儲器測試,廣泛應用于各類微控制器芯片耐久力等可靠性自驗證中。
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