本發明公開了一種電路板可靠性預測方法以及電路板應力加速壽命實驗方法,采集電路板圖像;利用元器件模型對電路板圖像中的電子元器件進行檢測,若檢測出所有電子元器件的種類,則保存電子元器件的種類和數目,若檢測出未知電子元器件,則補充該未知電子元器件的圖片到元器件模型的樣本集中,同時按照數據庫列表格式補充新的元器件的參數,重新訓練元器件模型,得到新的元器件模型,直到檢測出所有電子元器件的種類;根據保存的電子元器件的種類和數目以及電子元器件的通用失效率,計算電路板的可靠性參數。優點:通過元器件模型自動獲取電路板上影響可靠性指標的元器件種類和數量,能夠快速直接完成可靠性預測預測評估,實現可靠性試驗參數推薦。
聲明:
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