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    X射線衍射儀

    X射線衍射儀

    435
    規格/型號:D8 Advance
    品牌:德國Bruker
    應用領域:分析檢測
    產地:上海 - 上海
    廠家/供應商:中國科學院上海應用物理研究所 核能科學分析測試中心
    咨詢電話::021-39191002(請說明信息源自“中冶有色網”)
    更新時間:2025-02-17
    級別:待認證

    X射線衍射儀說明介紹

    X射線衍射儀

    儀器簡介

    X射線衍射儀主要測試功能包括X射線粉末衍射、掠入射衍射及高溫(~1200℃)條件下的X射線衍射,能夠提供粉末、塊狀、液態的多晶樣品的常規物相分析和半定量分析,晶胞參數的測定、修正、未知多晶樣品的X射線衍射指標化、晶粒尺寸和結晶度測定。還可對材料的殘余應力、織構及薄膜反射率進行測試和分析。配備的LynxEye XE陣列探測器共由192個子探測器陣列組成,具有優異的分辨率及信噪比;探測效率是普通閃爍探測器的10倍以上,普通樣品可在7分鐘左右測試完成;具有優異的能量分辨率,無需單色器,即可有效去除含鐵樣品的熒光。步進馬達加光學編碼精密測角儀可使角度重現性達到±0.0001°,是目前最高精度的測角儀。

    性能指標

    工作功率:1.6kW(40kV,40mA)

    靶材:靶、

    探測器:LynxEye XE陣列探測器

    掃描范圍:0°~140 °

    測角儀精度:0.0001° 準確度≤0.02°

    測試溫度:室溫~ 1200℃

    多功能樣品臺:標準樣品臺、尤拉環樣品臺、高溫樣品臺

    測試項目

    X射線粉末衍射X射線掠入射衍射高溫X射線衍射(室溫~1200℃)應力測試織構測試

    樣品要求

    塊狀樣品標準尺寸:10*10*1mm (厚度最多不要超過12mm)要求樣品表面平整粉末樣品要求顆粒不超過400目
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    中國科學院上海應用物理研究所 核能科學分析測試中心
    企業認證:
      
    所屬領域:
    分析檢測
    企業性質:
    -
    經營范圍:
    -
    聯系電話:
    021-39191002
    詳細地址:
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