工作原理:
設備通過128通道控制系統獨立激發32個壓電晶片,采用電子時序控制各晶片發射超聲波的延遲時間,使聲束在空間中形成動態聚焦與偏轉。通過A/B/P/TOFD四種成像模式(線性掃查、截面成像、扇形掃查及衍射時差法),可實時生成被檢工件內部缺陷的二維/三維圖像,靈敏度達Φ0.5mm通孔級缺陷,適用于復雜幾何結構工件的檢測。
應用范圍:
該系列設備廣泛應用于航空航天、石油化工、核電及軌道交通領域。
產品技術參數:
通道數:128通道獨立控制,支持32晶片同步激發
采樣頻率:100MHz,確保信號高保真度
成像模式:A/B/P/TOFD四模式切換,支持全聚焦3D成像
檢測范圍:0-10000mm(鋼中縱波),分辨率>40dB
聲速范圍:1000-15000m/s,適應多種材料檢測
防護等級:IP65,適應潮濕、粉塵環境
產品特點:
高精度與穩定性:采用全矩陣采集技術,缺陷定位誤差≤±0.1mm;
智能化操作:支持自動掃查與數據存儲,兼容MES系統對接;
多模態分析:集成缺陷尺寸量化與趨勢預測功能,提升檢測效率;
安全環保:全封閉設計減少輻射泄漏,配備漏電保護裝置。