工作原理:
基于X射線斷層掃描技術實現三維結構可視化。其工作原理通過微焦點X射線源發射錐束射線穿透樣品,射線在材料內部因密度差異發生衰減,平板探測器接收信號后由計算機通過濾波反投影算法重建三維體數據集。
應用范圍:
該設備廣泛應用于航空航天、電子制造及材料研發領域。
產品技術參數:
設備采用43×43cm大尺寸平板探測器,像素間距139μm,動態范圍≥10000:1。機械系統配備7軸高精度花崗巖運動平臺,定位精度±0.5μm,掃描速度6秒/層。
產品特點:
1. 搭載X-Act軟件,支持自動缺陷標注與CAD模型比對;
2. 雙射線源配置可一鍵切換,兼顧高分辨率與高穿透力;
3. 開放式架構支持原位拉伸、壓縮等力學測試;
4. 30天快速交付,整機質保1年,提供終身軟件升級服務。