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工作原理：
該儀器基于能量色散X射線熒光光譜技術（EDXRF），通過高壓X射線管激發樣品表面，使被測元素原子內層電子躍遷并釋放特征X射線。儀器采用高分辨率Si-PIN探測器捕捉特征射線能量，結合多變量非線性回歸算法，同步實現元素含量定量分析與厚度計算。
應用范圍：
產品覆蓋電子電器、汽車制造、金屬加工及環保檢測四大領域。
產品技術參數：
元素檢測范圍：硫（S）至鈾（U），重點元素檢出限≤2ppm；
厚度測量范圍：0.01-10mm（金屬），精度±0.005mm；
測量時間：30-180秒可調；
探測器類型：原裝電致冷高性能Si-PIN探測器；
激發源：40kV/50mA X射線管，6檔濾光片自動切換；
樣品腔尺寸：Φ450×90mm，支持不規則形狀樣品；
防護等級：全封閉機箱設計，輻射劑量≤1μSv/h。
產品特點：
一機雙能：同步完成RoHS元素檢測與金屬厚度分析，提升檢測效率；
智能校準：內置基體效應校正模型，自動匹配金屬材質參數；
數據管理：支持20,000組數據存儲，可導出至PC端生成分析報告；
安全防護：三重安全聯鎖裝置，配備緊急制動按鈕與紅外感應防護。
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湖南 - 長沙
2025年08月07日 ~ 09日
