計算機斷層掃描(CT)
儀器型號:Zeiss Metrotom 800;GE Phoenix v|tome|xm等
CT是計算機斷層成像技術的簡稱 ,它能在對檢測物體無損傷條件下,以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式 ,在不破壞樣品的情況下,利用X射線對物體進行掃描,清晰、準確、直觀地展示被檢測物體的內部 結構、組成 、材質及缺損狀況。納米、微米CT適用于小尺寸樣品高分辨率的檢測;工業CT適合大尺寸樣品檢測。
CT成像原理
當X射線穿過樣品時,樣品內部的不同材質、孔洞、缺陷部分對X射線的吸收率不同,后端探測器接收到的信號不同,由此可以通過圖像差異區分出不同的結構。CT技術(計算機斷層掃描技術)正是基于這一穿透性差異,在將樣品旋轉360°獲得全方位切片投影圖像后,利用重構算法將樣品的內部結構三維可視化。