InSEMHT高溫原位壓痕儀
InSEM®HT高溫原位納米壓痕儀通過在真空環境下獨立加熱壓頭和樣品,以測量高溫下的硬度、模量和剛度。InSEMHT與掃描電子顯微鏡(SEM)及聚焦離子束(FIB)工作室或獨立真空室兼容。InView軟件可幫助高級研究人員開發新實驗??茖W出版物顯示,InSEMHT的結果與傳統大尺度高溫試驗數據匹配良好。擁有較大的溫度范圍能力和較低的擁有成本,這種組合使InSEMHT成為材料開發研究中的寶貴工具。
產品描述
InSEMHT高溫測試系統測試溫度范圍寬以及擁有成本低的特點使InSEMHT成為材料開發研究計劃中很有價值的設備。InSEMHT可在真空環境下獨立加熱壓頭和樣品,并與多種SEM/FIB室或獨立真空室兼容。在溫度高達800℃時,可在原位模擬高溫度條件并獲得一致、可靠的測試數據。鉬制底座上的單晶碳化鎢壓頭針對高溫測試應用進行了優化,有多種幾何形狀可供選擇。
主要功能
●InForce50驅動器,壓頭可加熱,適用于電容位移測量和電磁力驅動,并配有可互換的壓頭
●樣品可升溫至800°C,采用10mm樣品尺寸和真空兼容的樣品安裝系統
●InQuest高速數字控制器,具有100kHz數據采集速率和20μs時間常數
●用于樣本定位的XYZ運動系統
●SEM視頻捕獲,可以將SEM圖像和測試數據進行同步
●獨特的軟件集成壓頭校準系統,可實現快速,準確的壓頭校準
●與Windows®10兼容的InView控制和數據審查軟件以及測試方法開發軟件,用于用戶自定義實驗
主要應用
●高溫測試
●硬度和模量測量(Oliver-Pharr)
●連續剛度測量
●高速材料特性分布圖
●蠕變測量
●應變速率敏感因子