MVI散射式掃描近場光學顯微鏡
美國Molecular Vista推出的全新一代散射式掃描近場光學顯微鏡(Vista-SNOM)基于光誘導力顯微鏡(PiFM)技術,通過檢測探針與樣品之間的偶極相互作用直接獲得樣品表面的場強分布,無需遠場光學探測器,避免了遠場信號干擾。該技術無縫適應紫外到射頻范圍,簡化了傳統SNOM的復雜配置。Vista-SNOM不僅在PiFM模式下提供與模擬結果高度吻合的場強測量,還具備s-SNOM模式,使科研人員能夠對比分析兩種模式下的場強結果,是研究納米光子學、表面等離激元、二維材料及范德華異質結構等領域的有力工具。
隨著近些年對于納米光子學、表面等離較為化激元、二維材料以及范德華異質結構等領域的深入研究,掃描近場光學顯微鏡(ScanningNear-fieldOpticalMicroscope,SNOM)已成為研究這些領域的不可或缺的表征手段。雖然掃描近場光學顯微鏡在散射式模式(s-SNOM)下的空間分辨率有了很大的提升,但是在實際使用上仍然得十分繁雜。在這一背景下,美國MolecularVista應運而生,推出了全新一代散射式掃描近場光學顯微鏡Vista-SNOM!
有別于傳統的掃描近場光學顯微鏡,Vista-SNOM基于專用的光誘導力顯微鏡(Photo-inducedForceMicroscope,PiFM)技術,通過檢測探針與樣品之間的偶較為交互直接獲得樣品表面的場強分布,無需遠場光學探測器。這不僅杜絕了遠場信號的干擾,也無需像SNOM那樣配置多個不同波段光學探測器。光誘導力顯微鏡的檢測端可無縫適應紫外~射頻,用戶僅需考慮如何將激發光激發至樣品。
Vista-SNOM在光誘導力顯微鏡模式下實測的場強結果與模擬結果高度吻合,同時也具備了s-SNOM模式。這使得科研人員可以將PiFM場強結果與s-SNOM場強結果進行對比分析。