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工作原理
設備采用流動電位法，通過控制液體流經固體表面的流速與壓力，測量產生的電勢差（流動電位），結合Helmholtz-Smoluchowski方程自動計算Zeta電位值。儀器內置高精度壓力傳感器與電勢檢測模塊，支持動態壓力掃描與溫度補償，確保在復雜環境（如不同pH或離子強度）下穩定測量。
應用范圍
廣泛應用于材料科學中納米顆粒分散性研究、生物醫學中藥物載體表面電荷優化、環境工程中膜污染控制、化妝品行業粉體材料穩定性評估及半導體行業晶圓表面清潔度檢測。適用于實驗室精密研究與工業生產線在線檢測場景。
產品技術參數
測量參數：固體表面Zeta電位（-200mV~+200mV）；精度：±5mV（全量程）；分辨率：1mV；樣品類型：粉末、纖維、平板材料（適配夾具）；壓力控制范圍：0-500mbar（自動掃描）；溫度控制范圍：室溫-80℃（可選配恒溫模塊）；數據采集：24位ADC，1000Hz采樣率；軟件功能：Zeta電位自動計算、等電點分析、數據擬合與報告生成；電源：AC220V，50Hz；尺寸：700×500×600mm（主機）。
產品特點
非破壞性測量：無需特殊處理樣品，保留原始表面特性；
高精度與寬范圍：1mV分辨率，適配弱電位至強電位材料；
動態分析功能：支持壓力掃描與pH滴定聯動，繪制Zeta電位變化曲線；
多樣品適配：提供粉末、纖維、薄膜專用夾具，擴展應用場景；
智能軟件：內置等電點計算、電位穩定性評估模型，自動生成分析報告；
操作便捷：觸控屏與電腦雙控制模式，支持遠程數據傳輸與云存儲；
模塊化設計：可擴展電導率、pH值同步監測模塊，提升研究深度。
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湖南 - 長沙
2025年08月07日 ~ 09日
