全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)
品名:全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)
產品型號:S4 T-STAR
品牌:Bruker/布魯克
原產地:德國
S4 T-STAR® 是一種多功能工具,用于痕量微量元素分析的高性能全反射X射線光譜儀.用于分析各種樣品類型,包括懸浮液、粉末、納米顆?;虮∧?。
制樣簡單,無需消解,而ICP則需要完全溶解的液體樣品。
TXRF 光譜儀 S4 T-STAR® 提供
TXRF 運營成本極低,無需氣體、冷卻介質或復雜的實驗室基礎設施。
自動校準功能,基本無需后期維護
優化后的測試系統支持工業級24h不間斷測試。
Bruker多樣化的樣品托盤和工具為用戶提供了更多選擇,可加快樣品制備速度,降低樣品污染風險。
參數配置:
參考標準:
GB/T24578-2024半導體晶片表面金屬沾污的測定 全反射X射線熒光光譜儀
GB/T42360-2023 表面化學分析 水的全反射X射線熒光光譜儀
GB/T40110-2021 表面化學分析 全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)測定硅片表面元素污染