工作原理
BH200M采用有限遠色差校正光學系統,通過長工作距平場消色差物鏡與高眼點大視野目鏡的組合,實現光線的高效匯聚與色差校正。其核心的落射式柯拉照明系統配備防反射結構,可消除光線反射干擾,確保成像清晰度與視場襯度。設備支持明場、簡易偏光等多種觀察模式,配合6V/30W鹵素燈或LED光源,光強連續可調,適應不同材料的檢測需求。
應用范圍
覆蓋金屬材料(如碳鋼、合金鋼、鋁合金)的金相組織分析、半導體硅晶片缺陷檢測、地質礦物成分鑒定及精密工程測量等領域。在工業場景中,可用于鑄件質量評估、熱處理效果驗證及原材料檢驗;在科研領域,支持材料微觀結構研究及失效分析,是實驗室與生產線的理想檢測工具。
技術參數
放大倍率:50X-1000X(標配5X、10X、20X、50X物鏡,可選配100X物鏡)
目鏡:PL10X/18mm高眼點平場目鏡,支持測微尺安裝
載物臺:復合式雙層機械平臺,移動范圍76mm×50mm,附設180mm×145mm平板平臺
調焦機構:低位同軸粗微調,粗調行程28mm,微調精度0.002mm,帶機械限位與松緊調節裝置
照明系統:反射式柯拉照明,自適應100V-240V寬電壓,支持黃、綠、藍、磨砂濾色片切換
產品特點
成像卓越:平場消色差設計消除像差,成像清晰平坦,視域開闊
操作便捷:低位調焦機構與載物臺同軸調節設計,符合人機工程學,減少操作疲勞
擴展性強:三目觀察筒支持20%分光比,可適配0.35X-1.0X攝像接筒,兼容數碼相機與圖像分析軟件
耐用可靠:全金屬機身結構穩固,防腐蝕涂層延長使用壽命,整機質保期1年,提供免費培訓服務