權利要求書： 1.一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗機，包括基板(1)和測試箱(2)，其特征在于：所述測試箱(2)位于基板(1)上表面，所述測試箱(2)內部設置有冷測試倉(3)和熱測試倉(4)，所述冷測試倉(3)與熱測試倉(4)之間設置有真空層(22)，所述真空層(22)內部設置有保溫板(23)。2.根據權利要求1所述的一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗機，其特征在于，所述冷測試倉(3)內表面安裝有制冷機構(5)，所述冷測試倉(3)內部設置有隔冷板(6)，所述制冷機構(5)輸出端安裝有導冷管(7)，所述導冷管(7)貫穿隔冷板(6)，所述冷測試倉(3)底面安裝有第一測試臺(8)，所述第一測試臺(8)位于導冷管(7)下方。3.根據權利要求2所述的一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗機，其特征在于，所述冷測試倉(3)一側面設置有若干散冷槽(9)，所述冷測試倉(3)前端面安裝有第一旋轉門(10)，所述第一旋轉門(10)前端面設置有觀測窗(11)。4.根據權利要求2所述的一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗機，其特征在于，所述熱測試倉(4)內表面安裝有制熱機構(12)，所述熱測試倉(4)內部設置有隔熱板(13)，所述制熱機構(12)輸出端安裝有導熱管(14)，所述熱測試倉(4)底面安裝有第二測試臺(15)，所述第二測試臺(15)位于導熱管(14)下方，所述測試箱(2)前端面安裝有控制器(19)，所述制熱機構(12)和制冷機構(5)均與控制器(19)電性連接。5.根據權利要求4所述的一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗機，其特征在于，所述熱測試倉(4)一側面設置有散熱槽(16)，所述散熱槽(16)內部安裝有冷扇(17)，所述熱測試倉(4)前端面安裝有第二旋轉門(18)，所述第二旋轉門(18)前端面也設置有觀測窗(11)。6.根據權利要求1所述的一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗機，其特征在于，所述基板(1)底面設置有若干底柱(20)，所述底柱(20)底面安裝有鎖止萬向輪(21)。 說明書： 一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗機技術領域[0001] 本實用新型屬于電子元件技術領域，特別是涉及一種用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗機。背景技術[0002] 電子元件，是電子電路中的基本元素，通常是
聲明：
“用于測試電子元件的冷熱沖擊試驗機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：森諾檢測認證技術服務(深圳)有限公司
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2025年07月09日 ~ 11日 
