權利要求書： 1.一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀，其包括：機臺(1)、居中固定組件(2)以及位移測定組件(3)，其中，所述居中固定組件(2)固定安裝在機臺(1)上端面的右側，用于對待檢測光學元器件進行居中夾持固定，所述位移測定組件(3)設置在居中固定組件(2)的正上方，以便對待測量光學元器件進行厚度檢測，所述機臺(1)上還設置有輔助照明燈(5)，其特征在于：所述位移測定組件(3)滑動設置在氣動滑軌(4)上，以實現位移測定組件(3)的上下精確位移；所述位移測定組件(3)與居中固定組件(2)的豎直方向上的中心軸線相互共線，以便實現對待檢測光學元器件的中心厚度進行精確的測量。2.根據權利要求1所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀，其特征在于：所述位移測定組件(3)包括頂板(31)、調節桿(32)、限位板(33)以及承接座(34)，所述頂板(31)的下端面上對稱安裝有兩個調節桿(32)，兩個所述調節桿(32)的伸縮端固定在承接座(34)的上端面；所述承接座(34)的橫截面為T形結構，且，所述承接座(34)豎直部分外部滑動套設有限位板(33)，所述限位板(33)的最大直徑大于支撐殼體(21)頂端開口的直徑；所述調節桿(32)的伸縮軸外部套設有彈簧一(321)；所述承接座的下端設置有頂部壓感觸頭(35)，且，所述頂部壓感觸頭(35)為弧面錐形結構。3.根據權利要求2所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀，其特征在于：所述頂板(31)的下端面內均勻圓周嵌入有多個激光接收器(331)。4.根據權利要求2所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀，其特征在于：所述承接座(34)的上端面內圓周均勻嵌入有若干激光發射器(341)，且，若干所述激光發射器(341)的位置與數量均與頂板(31)內的多個激光接收器(331)相匹配，以便測得承接座(34)各方位的位移變化量。5.根據權利要求1所述的一種用于光學元器件檢測的高精度測厚儀，其特征在于：所述居中固定組件(2)包括支撐殼體(21)、夾緊組件(22)以及調節裝置(23)，所支撐殼體(21)的內壁上圓周滑動設置有多個調節裝置(23)，且，每個所述調節裝置(23)遠離支撐殼體(21)內壁的一端固定安裝有夾緊組件(22)；每個所述調節裝置(23)的下端均通過電動伸縮桿一(25)
聲明：
“用于光學元器件檢測的高精度測厚儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)
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編輯：中冶有色網
來源：許昌學院
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2025年07月09日 ~ 11日 
