本申請提供一種激光器性能檢測系統,探測器通過探測器夾持裝置移動,經過電荷藕合器件成像耦合系統和顯微鏡目測裝置進行光路耦合,耦合完后將暗盒裝置蓋住探測器,防止外部環境光進入探測器影響耦合數據。探測器測得的響應電流經過測試儀分析得出被測激光器的LIV特性數據,通過數據線連接到計算機上進行數據采集儲存。通過激光器性能檢測系統彌補了傳統激光檢測系統的只能檢測單路光激光器的缺點,并且實現了被測激光器陣列的LIV特性測量。同時,通過激光器性能檢測系統可以改變探測器位置,進而可兼容多種規格的激光器進行檢測,方便了各種產品應用激光器的來料性能檢測。并且,通過激光器性能檢測系統提高了激光器應用可靠性,降低了生產成本。
聲明:
“激光器性能檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)