本發明公開了一種檢波器的性能檢測方法及裝置。該方法包括:計算輸入到至少一個檢波器的參考信號的自譜密度;計算至少一個檢波器的輸出信號的自譜密度;計算參考信號和輸出信號的交叉譜密度;根據參考信號的自譜密度、輸出信號的自譜密度和交叉譜密度獲取檢測檢波器性能的一致性函數。本發明解決了現有檢波器的性能檢測方法參數比較復雜和計算量大的問題,一致性函數將多個待分析變量統一為一個變量,綜合分析,計算方法簡單明了,減小了檢波器性能檢測的計算量,且在頻率域根據對參考信號和輸出信號每單位變化時相似程度的判斷,提升了檢波器性能檢測的直觀性和全面性。
聲明:
“一種檢波器的性能檢測方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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