本申請公開了一種超聲反射性能檢測系統和方法,用于測試電子設備的超聲性能,該超聲反射性能檢測系統包括:密閉箱體;運動導軌,設置于所述密閉箱體中;反射部件,滑動連接于所述運動導軌;其中,所述電子設備和所述反射部件分別位于所述運動導軌的兩端,在所述電子設備與所述反射部件相互靠近的過程中,所述電子設備發射的超聲波信號經所述反射部件的反射,被所述電子設備接收。利用本申請提供的檢測系統能夠提高超聲檢測精度。
聲明:
“超聲反射性能檢測系統和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)