本發明提供一種射頻終端的性能檢測方法及系統,所述射頻終端的性能檢測方法包括:引出與所述射頻終端相連的射頻芯片的輸出管腳作為第一測試端口;引出與所述射頻終端相連的天線焊點作為第二測試端口;所述第一測試端口、所述射頻芯片、所述射頻終端、所述天線焊點構成二端口網絡;利用與所述第一測試端口和第二測試端口分別連接的測試設備測試所述二端口網絡的對應射頻性能。本發明可以脫離射頻芯片,直接將射頻終端看作二端口網絡進行檢測和調試,能兼容更多的有源和無源測試方法,可分模塊化分析和解決射頻匹配類問題,提高射頻輸出整體性能。
聲明:
“射頻終端的性能檢測方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)