本實用新型公開了磷酸二氫鉀晶體坯片性能檢測裝置,涉及磷酸二氫鉀晶體性能檢測技術領域,包括分光光度計本體和晶體胚片,所述分光光度計本體的右端槽內安裝有用于控制分光光度計本體的旋鈕和控制面板,所述分光光度計本體的左側壁開設有用于檢查的檢測孔,所述檢測孔的內壁連接有移動結構,所述移動結構連接有傳動結構,所述傳動結構連接有擋板,所述擋板連接有轉軸,所述轉軸與檢測孔側壁開設的橫孔貼合轉動連接,所述移動結構的頂部從前到后依次固定連接有弧形支撐板和凸塊,所述弧形支撐板開設有滑槽;通過上述方式,本實用新型方便在更換晶片時進行校零,保證了下組晶體胚片檢測時處于標準檢測狀態。
聲明:
“磷酸二氫鉀晶體坯片性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)