本發明公開了一種光學材料性能檢測裝置,屬于材料性能測試技術領域,能夠解決現有裝置不能提供光學材料二階非線性光學信號檢測區域處準確可靠的粒度信息,從而不能準確反映光學材料的二階非線性光學性能的問題。所述檢測裝置包括:樣品臺,用于放置待測樣品;圖像采集模塊,設置在樣品臺的上方,用于采集待測樣品的待測區域的圖像;處理模塊,用于根據待測區域的圖像獲取待測區域中待測樣品的粒度信息。本發明用于光學材料的二階非線性光學性能分析。
聲明:
“一種光學材料性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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