本發明公開了一種亞波長光子篩聚焦性能檢測方法。該檢測方法采用曝光法和掃描法相結合的混合檢測系統,由激光光源、擴束準直系統、亞波長光子篩、已涂有光刻膠的硅片、真空泵、工件臺、計算機控制系統組成;其中,工件臺由PI公司的二維工件臺和壓電陶瓷共同組成,二維工件臺用于粗調,壓電陶瓷用于精調;工件臺的運動方向及步進值由計算機控制系統的軟件進行設置,其中X方向控制焦距的步進,Y方向控制聚焦光斑的移動。本發明的檢測方法的測量精度不受CCD像素間距的影響,無需光學放大環節,不改變光斑在空間的實際能量分布。
聲明:
“一種亞波長光子篩聚焦性能檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)