本實用新型公開了一種郵政總包RFID袋牌質量、性能檢測暗室,它主要是針對目前RFID袋牌在郵政領域的發展引起的袋牌批量檢測問題而設計。所述的檢測暗室為一個四周封閉的盒子,內壁上貼滿由表面呈錐形結構組成的吸波材料(1),在所述的檢測暗室的頂部留有安裝有RFID閱讀器天線的位置。通過本實用新型可以幫助RFID袋牌批量檢測設備實現在近距離準確測試RFID標簽的真實質量特性,從而實現RFID標簽在確保有效性下的重復利用,從而使RFID標簽在郵政領域的應用更具可行性。?
聲明:
“郵政總包RFID袋牌質量、性能檢測暗室” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)