本發明提供的一種電子元件性能數據檢測方法,涉及數據處理技術領域。在本發明中,獲取性能檢測設備對多個待檢測的電子元件分別進行的多次性能檢測處理得到的多組性能檢測數據,其中,每一組性能檢測數據包括對應的一個電子元件通過進行多次性能檢測得到的多條性能檢測數據,性能檢測設備用于在檢測得到性能檢測數據之后發送給性能數據處理服務器;基于多組性能檢測數據,確定性能檢測設備是否存在異常;若確定性能檢測設備不存在異常,則對多組性能檢測數據進行解析處理,得到每一個電子元件的性能是否存在異常的解析結果。采用以上步驟對電子元件的性能檢測異常解析,可以使得得到的解析結果具有較高的可靠性。
聲明:
“一種電子元件性能數據檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)