一種清晰顯示低碳低合金鋼奧氏體晶粒的方法,屬物理檢測技術領域。用于解決低碳低合金鋼尚無法清晰顯示其奧氏體晶粒的問題。本方法包括淬火過程和腐蝕過程,特別之處是:所述腐蝕過程中腐蝕劑配比如下:CrO3 8g~10g,NaOH 40g~50g,苦味酸1.6g~2g,環氧乙烷2ml~4ml,蒸餾水80ml~100ml。本發明采用特定的腐蝕劑配以合適的腐蝕方法,可以清晰地顯示出奧氏體晶界,該方法填補了碳低合金鋼奧氏體晶界顯示技術的空白,為生產企業研究該類鋼變形過程中工藝參數對組織演變的影響提供重要的理論依據,對生產碳低合金鋼合理控制工藝參數和保證產品性均可起到重要作用。
聲明:
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