本發明公開了一種基于機器視覺的SMD晶體器件檢測系統,屬于機器視覺檢測技術領域。本發明的基于機器視覺的SMD晶體器件檢測系統,其特征在于:包括ARM控制器(1)、圖像顯示卡(2)、顯示模塊(3)、光源模塊(4)、工控機(5)、報警模塊(6)、系統復位模塊(7)、震動送料機構(8)、器件性能檢測機構(9)、方向調整機構(10)、CCD工業相機(11)、光源模塊(12)、缺陷產品分揀機構(13)、運送傳輸機構(14)。本發明與現有技術相比:具有系統結構簡單、安裝與調試方便、系統可靠性高、測量精度高、功耗低、易于普及推廣、維修方便等優點。
聲明:
“基于機器視覺的SMD晶體器件檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)