本發明公開了電路性能自動測試系統,所述系統包括:固定單元,用于對待測試電路板進行固定;外觀檢測單元,用于對待測試電路板進行外觀檢測;尺寸檢測單元,用于對待測試電路板進行尺寸檢測;電路檢測,用于對待測試電路板進行電路性能檢測;解決了現有的電路性能測試效率較低和成本較高的技術問題,實現了測試系統設計合理,電路性能測試效率較高成本較低的技術效果。
聲明:
“電路性能自動測試系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)