本申請涉及顯示技術領域,具體公開了一種陣列基板、顯示裝置及陣列基板的檢測方法,該陣列基板包括顯示區和包圍顯示區的非顯示區,顯示區包括多條柵線和多條數據線,多條柵線和多條數據線垂直交叉設置;非顯示區包括與柵線連接的柵開關、與數據線連接的數據開關、與柵開關連接的柵焊盤、與數據開關連接的數據焊盤以及與柵焊盤和數據焊盤均連接的控制器,控制器用于打開柵開關,非顯示區還包括用于打開數據開關的公共焊盤。通過控制器和公共焊盤的設置使得數據開關和柵開關可以獨自的完成打開的動作,實現陣列基板的性能檢測,保障陣列基板的制備良率;并且無須在非顯示區內額外設置焊盤區域用于連接,節省陣列基板的外圍布線空間。
聲明:
“陣列基板、顯示裝置及陣列基板的檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)