本發明涉及一種光學檢測方法,具體涉及一種基于成像高光譜技術的多功能光學面板檢測方法。設備包括發光面板、樣品臺、成像光譜儀和計算機,發光面板整體亮度是評價光學面板性能的關鍵指標,其異常點檢測也有助于保障產品生產品控。通過采用成像高光譜技術對發光面板進行掃描,可以獲得空間位置的每個點的發光亮度和整體的精確亮度。本發明可實現任意尺寸發光面板的整體或局部位置的精確亮度測量,有助于實現在線快速發光面板性能檢測及故障評估。
聲明:
“一種發光面板多功能檢測方法及設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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