本發明實施例提供的一種檢測裝置,所述檢測裝置包括電源、電源檢測模塊、主控模塊以及射頻模塊,通過所述電源檢測模塊檢測所述被測LoRa模塊的工作電流,所述主控模塊根據所述工作電流對所述被測LoRa模塊的功耗進行分析,以檢測所述被測LoRa模塊的功耗是否合格,所述射頻模塊接收所述主控模塊控制所述被測LoRa模塊發射的射頻信號,所述主控模塊對所述射頻信號進行分析,以檢測所述被測LoRa模塊的射頻性能是否合格,從而可在LoRa模塊的生產過程中對LoRa模塊進行相關的性能檢測,避免生產出的LoRa模塊質檢要求不過關,生產效率低的問題。
聲明:
“檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)