本發明公開了一種集成電路測試設備,屬于集成電路測試技術領域,一種集成電路測試設備,包括測試主機,測試主機通過PCI總線與計算機連接,測試主機通過繼電器矩陣與集成電路連接,測試主機上設有多個測試分機,本發明提供了一種集便攜式測試和臺式測試技術于一體的并具有高精準度的集成電路測試設備,本發明以測試分機作為主要測試設備,可隨時進行便攜式測試,測試主機作為多個測試分機的連接輔助載體,可使多個測試分機同時對同一集成電路進行同步測試,集中分析多個測試結果以減小測試誤差,并且,通過測試主機對多個測試分機的信號數據進行采集及統一校準,分析測試分機的測試性能,檢測出并提高測試分機的測試精確度。
聲明:
“一種集成電路測試設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)