本實用新型涉及一種多用途型激光微電測試檢測機構,包括底座主體和滑動測試機構;其中,底座主體包括,底板和負極測試頭組件;滑動測試機構包括,導軌滑塊組件和正極探針測試頭;導軌滑塊組件固定連接在底板上;負極測試頭組件固定安裝在底板上,正極探針測試頭固定安裝在滑動測試機構上;底板上設置有待測產品安裝部,用于放置待測產品,待測產品位于負極測試頭組件和正極探針測試頭之間。本實用新型通過機構連接待測產品的正負極進行半成品過程中電性能檢測,以替代產品正負極直接連接外置電源,避免了虛接打火產生的瞬時大電流導致激光芯片被擊穿。
聲明:
“一種多用途型激光微電測試檢測機構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)