本實用新型公開了一種調制器和陣列基板檢測系統,屬于顯示領域。調制器包括:調制器本體、透明導電膜、電源和電流檢測組件;調制器本體包括相對設置的內部電極和金箔層,以及位于所述內部電極和所述金箔層之間的液晶層;所述透明導電膜設置在所述金箔層遠離所述液晶層的一面上,且與所述金箔層之間形成有間隙;所述金箔層和所述透明導電膜分別與所述電源的不同極電連接,所述電流檢測組件串聯在所述金箔層與所述電源之間,或者所述電流檢測組件串聯在所述透明導電膜與所述電源之間。本實用新型減少了陣列基板上異物劃傷調制器金箔層的幾率,相應地降低了陣列基板檢測的成本。本實用新型用于陣列基板的性能檢測。
聲明:
“調制器和陣列基板檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)