本實用新型公開了一種光纖涂覆層異常處檢出裝置,包括有放置光纖的光纖盤、用于給光纖通光的光纖筆、用于檢測光纖的熱成像儀以及張力篩選機;所述光纖的一端與張力篩選機連接,所述張力篩選機對光纖進行性能檢測,所述光纖的另一端與光纖筆連接,經光纖筆照射使光纖通光,在所述光纖盤與張力篩選機之間設置熱成像儀,用于檢測通光后光纖上的異常點。對光纖通光,并對通光后的光纖使用熱成像儀檢測,熱成像儀可以對光纖的異常處檢出,發現異常處可以對其進行切除操作,防止后續光纖在異常處損壞。
聲明:
“光纖涂覆層異常處檢出裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)