本發明提供了一種基于單片機的密封性繼電器性能測試方法及裝置,所述方法包括以下步驟:(1)調用模數轉換子程序及IIC協議,讀取觸點輸入電壓;(2)判斷繼電器輸出命令,選擇數字量范圍;(3)判斷數字量回檢輸入是否正常,若是,測試次數減1,繼電器輸出命令取反,并執行下一步,若否,調用報警子程序;(4)調用顯示子程序,控制顯示模塊顯示設置及測試次數,并返回到步驟(1)重新執行。本發明提供的一種基于單片機的密封性繼電器性能測試方法和裝置,其能對繼電器的勵磁性能進行檢測。
聲明:
“一種基于單片機的密封性繼電器性能測試方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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