本發明公開了一種航天器器件位移損傷劑量探測方法,屬于核技術中的輻射探測技術領域。首先使用輻射源對集成有LED與PD的光電耦合器進行刻度,獲得歸一化時光電耦合器的電流傳輸比倒數的增量與位移損傷劑量的響應曲線。然后用地面位移損傷效應測試評估輻射源對光電耦合器進行輻照,獲得光電耦合器電流傳輸比倒數的增量。根據具體輻照時光電耦合器電流傳輸比倒數的增量,響應曲線中查找出與之對應的位移損傷劑量值,即可探測出此時的位移損傷劑量。本發明克服了通常試驗模擬源非理想單能及次級輻射的影響;相比現有的僅用LED做位移損傷探測,測試系統簡單實用,消除了光學耦合引入的誤差。
聲明:
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