本發明公開了一種用于快速分析濾膜上顆粒物化學組分的質譜檢測方法及裝置。所述裝置主要包括加熱管、毛細管進樣接口、電離源、離子導入器和質量分析器等部分。所述檢測方法包括,將收集到顆粒物的濾膜直接放置于加熱管內進行熱解析,通過氮氣將顆粒物熱解析產生的氣體分子帶入至毛細管進樣接口,氣體分子進入電離源內進行離子化,產生的離子經離子導入器傳輸到質量分析器進行質量測量,得到濾膜上顆粒物的化學組分信息。本發明將采樣后的濾膜直接放入加熱管內進行熱解析,不需要對濾膜進行萃取等預處理操作,減少人為誤差。利用質譜儀對顆粒物熱解析氣體組分進行快速檢測,可以在秒到分鐘時間內獲得顆粒物的化學組分信息。使用軟電離源進行電離,能夠獲取顆粒物組分的分子質量信息。
聲明:
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