通式I的化合物用作電化學檢定中的標記物:(I)其中Fc和Fc’是取代的或未取代的二茂鐵基部分,X是任選地被-O-或-NH-間隔的C1~C6亞烷基鏈;Y是任選地被-O-或-NH-間隔的C1~C6亞烷基鏈;Z是可以任選地被取代和/或可以任選地被-O-、-S-、環烷基、-CO-、-CONR1-、-NR1CO-、或-NR1-間隔的C1~C12亞烷基鏈,其中R1表示氫或C1~C4烷基;并且R是連接基團。使用化合物I來制備被標記底物,以及用于制備被標記底物的官能化化合物。
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“用于電化學檢定的新二茂鐵標記物及其在分析方法中的用途” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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